Контрольные карты среднего арифметического и СКО

Рис. 3.1.11 Х – и S – контрольные карты.

Рис. 3.1.12 Контрольные карты Шухарта с контрольными и предупредительными границами.

 

Вывод: В контрольных картах (см. рис. 3.1.13 и 3.1.14) отсутствует выход результатов за контрольные границы (нет выбросов), периодичность, приближение к центральной линии и линейный тренд, не нарушается случайность распределения точек, т.е. технологический процесс находится в статистически управляемом режиме.

 

 

Оперативная характеристика

Рис. 3.1.13 Оперативная характеристика карты среднего арифметического.

 

Вывод: из графика видно, что чем больше уровень выборки (N), тем меньший разброс имеют значения.

 

Проверка на выбросы

Рис.3.1.14 Проверка на выбросы карты СКО.

Вывод: число значений размаха, находящихся ниже LCL и выше UCL равно нулю.

Проверка нарушений случайности распределений

Рис.3.1.15 Проверка нарушений случайности распределения карты среднего арифметического.

 

Вывод: нарушений случайности распределения не обнаружено.

 

Рис.3.1.16 Проверка нарушений случайности распределения карты СКО.

 

Вывод: нарушений случайности распределения не обнаружено.

Описание контрольных карт

Рис. 3.1.17 Описание контрольных карт среднего арифметического.

 

Вывод: все полученные значения среднего арифметического заключены в пределах 6σ (от LCL=2,255555 до UCL=2,536348).

Рис. 3.1.18 Описание контрольных карт СКО.

Вывод: все полученные значения СКО заключены в пределах 6 σ (от LCL=0 до UCL=0,205484).

Гистограммы

Рис. 3.1.19 Гистограмма среднего арифметического.

Вывод: на данной гистограмме разрыв значений не прослеживается.

Рис. 3.1.20 Гистограмма карты СКО.

 

Вывод: на данной гистограмме явно прослеживается разрыв значений в интервале [0,03 – 0,05] и [0,11 – 0,12]. Это может быть результатом ошибок при измерениях, так что считаем данное нарушение допустимым.

 

Контроль параметров процесса производства линолеума при помощи С и Р карты (по альтернативному признаку).

   Для контроля бракованных партий матрасов еженедельно отбирались выборки объемом по 100 единиц продукции, и подсчитывалось количество дефектов в выборке. Возможные дефекты:образование вмятин и пробоин; потеря цвета; дефекты рисунка; жесткость; остаточная деформация.

Таблица 3.2.1

Исходные данные для построения С-карты

Номер выборки	Число дефектов в выборке	Номер выборки	Число дефектов в выборке
1	2	11	3
2	1	12	4
3	3	13	4
4	1	14	1
5	4	15	2
6	2	16	4
7	4	17	3
8	2	18	4
9	1	19	1
10	4	20	3

Рис. 3.2.1 Контрольная С-карта и гистограмма распределения числа дефектов в выборке.

 

Вывод: На контрольной карте (см. рис. 3.2.1) отсутствует выход результатов за контрольные границы (нет выбросов), периодичность, приближение к центральной линии и линейный тренд, не нарушается случайность распределения точек, т.е. технологический процесс находится в статистически управляемом режиме.